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IC晶圆/成品测试

2015年07月27日 平台服务 ⁄ 阅读 1,923 次

SITRI在常规IC测试中使用高性能自动化测试系统Accotest STS8200。是针对各类线性电路、电源管理类、LED驱动类、SIM卡控制电路、模拟开关、锂电池保护,运算放大器等等一系列大模小数类产品的模拟/混合测试系统。可测试产品的工作电流,工作频率,参考电压,参考电流,导通电阻,饱和导通压降,阈值电压,开关时间,失调电压,开环增益等等参数。配置TSK的8英寸探针台,可对晶圆级的产品做probing测试,并可生成wafer mapping文件及支持打墨点功能,方便客户做后续产品封装,实现无缝链接。

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STS8200测试系统的主要特点:

-高精度的浮动V/I 源

-高压、大电流源选项

-交流源表、任意波形发生器及数字化仪

-多量程档可选

-最高16 个工位并行测试能力

-分站并发测试功能

-充分提高测试效率减低成本

混合信号IC晶圆/成品测试

SITRI在混合信号测试中使用射频SOC集成电路测试系统。TR20的测试能力可以覆盖高速数字芯片、处理器、FPGA,、AD/DA、Flash、DDR1-3、调制解调芯片、接口类芯片等等。强大的工具可以帮助客户快速定位问题,验证设计。缩短产品导入时间。

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M-5S测试系统的主要特点:

-小巧便携,支持现场测试

-高速数字测试速率最高可达到1.6Gbps

-24bit高精度任意波形发生器和数字化仪

-高精度电流电压测量

-支持各类存储器测试的自动图形发生模块(APG)

-支持高电压逻辑器件

-丰富灵活的报告

-强大射频扩展能力(可扩展GSM/TD-SCDMA/Bluetooth/WLAN/GPS测试)

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